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美国达高特涂层测厚仪使用原则如何?
点击次数:255 发布时间:2019-07-23
   美国达高特涂层测厚仪在国内外大大小小的牌子就 100多个,我们经常面对客户同一种疑惑,我应该怎么选?曾经我们纳闷了好一段时间,因为我们基于用户选型开发了涂层测厚仪选型器,可以傻瓜式的根据他的应用环境和要求确定哪些仪器适合哪些仪器不适合。在使用过程中普遍用户反映很直观,比业务员讲解简单。
 
  同事要求我写一篇如何选择美国达高特涂层测厚仪的文章,我思来想去,界定选择哪种测试方法、精度、量程的这些交给系统,不同的应用环境,特殊形状,应用的有对应的解决方案,估计用户也都看过了,因此,我想还是跟大家分享下,不同价位的测厚仪,便宜在哪,贵在哪,解决用户根据系统解决不了的问题。
 
  1、基体金属磁性质
 
  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准
 
  基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
 
  2、基体金属厚度
 
  每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
 
  3、边缘效应
 
  美国达高特涂层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
 
  4、 曲率
 
  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
 
  5、试件的变形
 
  测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测不出可靠的数据。
 
  6、表面粗糙度
 
  基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
 
  7、附着物质
 
  美国达高特涂层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
 
  8、 测头压力
 
  测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
 
  9、测头的取向
 
  测头的放置方式对测量有影响。美国达高特涂层测厚仪在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。
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